📰 研报摘要
查看全文 ➔摘要: 本报告深入分析了在AI算力需求驱动下,高带宽存储器(HBM)对存储测试机产生的新需求及其带来的国产替代机遇。报告指出,HBM的3D堆叠架构使得测试重心前移至KGSD环节,导致测试需求量价齐升,而国内存储测试机国产化率极低,存在广阔的替代空间。
行业主线:
- AI驱动HBM需求爆发:AI服务器BOM中内存价值量占比快速提升,HBM凭借高带宽、低延迟、低功耗优势成为应对“内存墙”的核心技术,且市场份额由SK海力士、三星和美光主导。
- 测试需求量价齐升:HBM采用3D堆叠架构,测试重心前移至KGSD环节,测试道数由传统DRAM的3-4道提升至15道以上,设备需求量约为传统DRAM的5-6倍。
- 国产替代逻辑强化:存储测试机市场长期由爱德万和泰瑞达主导,国内国产化率仅8-10%,在地缘政治环境下,国产化逻辑进一步强化。
关键变化与分歧:
- 技术壁垒显著提升:HBM对测试设备的供电能力、皮秒级时序精度、超宽位宽的高并行测试能力及算法能力提出了更高要求。
- 去日化空间明确:测算显示,在半导体设备去日化进程中,测试机是弹性最大的方向之一,替代市场空间约108亿元。
受益方向与风险:
- 受益方向:重点关注具备存储测试机布局能力的国产设备商,如长川科技(SoC+存储测试机领先)、精智达、联讯仪器。
- 核心风险:封测设备需求不及预期、技术研发进展慢于预期、行业竞争加剧导致毛利率下滑。